時(shí)間：2025/9/10-9/12
地點(diǎn)：臺(tái)北南港展覽館一館一樓, 中國(guó)臺(tái)灣
Enlitech展位：I2507
Enlitech將于 2025 年 9 月 10–12 日 出席在 臺(tái)北南港展覽館 舉辦的 2025 Semicon Taiwan 國(guó)際半導(dǎo)體展。
作為亞洲備受矚目的半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)盛會(huì)，Semicon Taiwan 聚焦于芯片制程、材料創(chuàng)新、先進(jìn)封裝、光電傳感與應(yīng)用，吸引全球芯片制造商、研究機(jī)構(gòu)與產(chǎn)業(yè)專(zhuān)家共同參與。
秉持“Optical Testing — The Standard for High-Speed Chips 光學(xué)測(cè)試，為高速芯片定義真實(shí)性能"的核心理念，光焱科技 (Enlitech) 專(zhuān)注于開(kāi)發(fā)先進(jìn)的半導(dǎo)體光學(xué)測(cè)試設(shè)備，協(xié)助研究人員與工程師精準(zhǔn)掌握 高速芯片與光電傳感器 的性能。
在本次展會(huì)，Enlitech將分享以下設(shè)備：
SPD2200：商用級(jí) SPAD 單光子雪崩二極管效率整合型測(cè)試儀
APD-QE：先進(jìn)光傳感器量子效率光學(xué)測(cè)試儀
SG-A：CMOS 圖像傳感器測(cè)試儀
這些檢測(cè)解決方案廣泛應(yīng)用于高速芯片、光子學(xué)、光電傳感器 的效能驗(yàn)證與突破研究。
在 2025 Semicon Taiwan，光焱科技 (Enlitech) 將由專(zhuān)業(yè)團(tuán)隊(duì)于現(xiàn)場(chǎng)提供技術(shù)解說(shuō)，協(xié)助您深入了解光學(xué)測(cè)試在半導(dǎo)體與光電領(lǐng)域的應(yīng)用價(jià)值。
我們誠(chéng)摯邀請(qǐng)您蒞臨 I2507 展位，與我們交流半導(dǎo)體光學(xué)檢測(cè)的未來(lái)！
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